葉面積指數(shù)測定儀可測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等，可用于農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析可用于不同植物群體結(jié)構(gòu)的比較;可對農(nóng)田作物群體生長過程進行動態(tài)監(jiān)測適用于生態(tài)學野外植物群體動態(tài)監(jiān)測的研究與教學;

原理與方法

葉面積指數(shù)測定儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下， 植物冠層圖象分析儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中準確和省力、省時、快捷方便的方法。

葉面積指數(shù)的多少決定了植物的光合作用，在未來20年里，農(nóng)作物產(chǎn)量需要大幅增加，才能滿足日益增長的人口的糧食需要。找到如何提高作物產(chǎn)量的策略，顯然是非常必要的。一些科學家剛剛開發(fā)出了一個準確的動態(tài)模型，可以預測光合作用的變化將在多大程度上提高小麥和高粱作物的產(chǎn)量。

測量參數(shù)

葉面積指數(shù)

葉片平均傾角

散射輻射透過率

不同太陽高度角下的直射輻射透過率

不同太陽高度角下的消光系數(shù)

葉面積密度的方位分布

功能特點

非破壞性地測定冠層結(jié)構(gòu)

可以測量冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)

手持式萬向接頭自動水平調(diào)整探頭，無需三角架

隨身攜帶的筆記本計算機可以幫助你正確選點取樣，即時決定圖像的取舍

由外接鋰電池組提供電源便于觀測和長時間測量，尤其適合完成野外繁重的觀測任務

鏡頭角度：150°(或用戶自選180°鏡頭。除用戶有特殊需要，180°魚眼鏡頭經(jīng)常不適合

孔隙測量原理與方法所假設的前提條件，用于冠層結(jié)構(gòu)分析是不適宜和不經(jīng)濟的)

分辨率：768×494pix

測量范圍：天頂角由0°～75°

PAR感應范圍：感應光譜400nm～ 700nm  測量范圍0～2000μmol/㎡•S

分析軟件：植物冠層分析系統(tǒng)

顯示和內(nèi)存：決定于筆記本電腦的選擇。

電 源：鋰電池組

傳輸接口：USB

工作溫度：0～55℃